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技術(shù)文章ARTICLE

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- 短波紅外相機(jī)在半導(dǎo)體檢測(cè)中的應(yīng)用2020-05-27
- 黑夜中的“第三只眼”—低照度CMOS相機(jī)2020-05-11
- EMCCD的增益解析2020-04-23
- 紅外探測(cè)器在氣體分析方面的應(yīng)用2016-12-29
- 紅外光電探測(cè)器在測(cè)溫方面的應(yīng)用2016-12-23
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產(chǎn)品中心 Products

Leading相機(jī)系列

高幀頻短波紅外相機(jī) 寬波段短波紅外相機(jī) 高分辨率短波紅外相機(jī) 大靶面短波紅外相機(jī) Leading線陣相機(jī) 深度制冷短波紅外相機(jī) Leading640短波紅外相機(jī) Leading320短波紅外相機(jī) 1550nm激光光斑跟蹤相機(jī)
Raptor科學(xué)級(jí)相機(jī)

高幀頻1000FPS-EMCCD 深度制冷CCD-風(fēng)冷結(jié)構(gòu) 超高幀頻制冷CCD 深度制冷短波紅外SWIR相機(jī) 科學(xué)級(jí)深度制冷X-Ray相機(jī) SWIR短波紅外相機(jī) 高分辨率深度制冷CCD相機(jī) 高靈敏度EMCCD相機(jī) 高分辨率EMCCD相機(jī) 高幀頻電子倍增CCD相機(jī) 寬波段深度制冷EMCCD相機(jī)
銦鎵砷短波探測(cè)器

線陣短波InGaAs探測(cè)器 320×256InGaAs探測(cè)器 640×512InGaAs探測(cè)器
光電對(duì)抗測(cè)試產(chǎn)品系列

紅外發(fā)射率測(cè)量產(chǎn)品紅外輻射測(cè)量產(chǎn)品
IDQ單光子探測(cè)器/計(jì)數(shù)器

ID230單光子探測(cè)器/計(jì)數(shù)器 ID Qube NIR Free-Running紅外異步單光子探測(cè)器 ID Qube NIR Gated紅外單光子探測(cè)器 ID220單光子探測(cè)器/計(jì)數(shù)器超導(dǎo)納米線單光子探測(cè)器 ID120單光子探測(cè)器/計(jì)數(shù)器 ID100單光子探測(cè)器/計(jì)數(shù)器 ID101OEM可見(jiàn)光光子計(jì)數(shù)器 ID900時(shí)間控制器 ID300短脈沖激光源
高光譜相機(jī)

國(guó)產(chǎn)高光譜相機(jī) LWIR長(zhǎng)波高光譜相機(jī) MWIR中波高光譜相機(jī) SWIR短波紅外高光譜相機(jī) NIR近紅外高光譜相機(jī) 可見(jiàn)光-近紅外高光譜相機(jī)
SI深度制冷CCD相機(jī)

SI-1600S大靶面COMS相機(jī) SI-1100S大靶面CCD相機(jī) SI-1000S深度制冷CCD相機(jī) SI-850S深度制冷CCD相機(jī) SI-800S深度制冷CCD相機(jī)
科學(xué)級(jí)相機(jī)

進(jìn)口短波紅外相機(jī) 夜視ICMOS相機(jī) 工業(yè)sCMOS相機(jī) 紫外相機(jī) 高分辨率天文學(xué)CCD相機(jī)
激光測(cè)距系列

激光測(cè)距模組激光測(cè)距探測(cè)器（APD）激光器
THz系列

TK絕對(duì)THz功率/能量計(jì) THz功率計(jì) THz時(shí)域光譜儀 THz相機(jī) THz源 THz超快探測(cè)器
紅外熱像儀

長(zhǎng)波非制冷紅外熱像儀長(zhǎng)波制冷紅外熱像儀中波制冷紅外熱像儀
目標(biāo)模擬器

多功能動(dòng)態(tài)目標(biāo)模擬系統(tǒng) 紅外圖像目標(biāo)模擬器激光模擬器便攜式紅外目標(biāo)模擬器紅外點(diǎn)源、干擾目標(biāo)模擬器可見(jiàn)光目標(biāo)模擬器
專用光電測(cè)試系統(tǒng)

多譜段激光分布測(cè)試系統(tǒng) 大口徑平行光管全自動(dòng)定焦系統(tǒng) 紅外靈敏度測(cè)試系統(tǒng) 紅外導(dǎo)引、控制測(cè)試系統(tǒng) 告警能力探測(cè)概率測(cè)試系統(tǒng) 激光光電探測(cè)系統(tǒng)檢測(cè)裝置野外便攜式多光軸平行性校正儀大口徑平行光管測(cè)試儀電視紅外圖像跟蹤性能檢測(cè)系統(tǒng) 紅外光學(xué)及成像測(cè)試系統(tǒng) 便攜式整機(jī)光學(xué)性能測(cè)試系統(tǒng) 激光膜層損傷閾值測(cè)試系統(tǒng) 多光譜多光軸測(cè)試系統(tǒng)
通用測(cè)試設(shè)備

光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)試儀相機(jī)/熱像儀/激光測(cè)試系統(tǒng) 微區(qū)拉曼/PL光譜分析儀激光波長(zhǎng)計(jì)/激光功率計(jì)
點(diǎn)元光電探測(cè)器

光導(dǎo)碲鎘汞HgCdTe PC（1um-26um）光伏碲鎘汞HgCdTe PV（0.5um-11um）銻化銦InSb（1um-5.5um）硫化鉛PbS（1.0um-3.5um）砷化銦InAs（1.0um-3.8um）銦鎵砷InGaAs（0.5um-2.6um）鍺Ge（0.5um-1.8um）硅Si（300nm-1100nm）碳化硅SiC（190nm-450nm）
光纖滑環(huán)

光電組合滑環(huán) 多通道光纖滑環(huán) 雙通道光纖滑環(huán) 微型光纖滑環(huán) 單通道光纖滑環(huán)
光學(xué)鏡頭及光學(xué)元件

高精度光學(xué)元件快速反射鏡振鏡系列聚焦可調(diào)鏡頭